霍尔效应测试仪轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。利用范德堡测量技术对半导体材料的电阻率、载流子浓度、磁致电阻率、霍尔系数、电子迁移率等进行测量，用来表征和了解材料的物理性质。
霍尔效应测试仪本系统具有如下特点：
1、高精密度电流源
输出电流之精确度可达1μA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。
2、高精密度电压表
使用高精度电压表，电压测量能力可达μV等级，上限可达2V，适合用于绝大多数材料测量。
3、外型精简、操作简单
外型轻巧、美观大方，精心研制的电动换向永磁铁，磁铁极性更换灵活方便，只需按键一次磁铁就可以轻松换向。
4、独立的电流电压接口
具有独立的恒流源输出和电压测量接口，方便研究者用于测量材料的I-V曲线等参数。
5、低温扩展能力强
仪器预留低温选件测量接口，可以选配蓝海科仪霍尔测试仪液氮恒温器，实现78K-350K变温霍尔效应测量。
6、可插拔样品托
自行开发的可插拔样品托，精致美观使用方便，随机附赠额外的样品托，方便使用者安装样品。
霍尔效应测试仪应用领域：主要应用于材料导电特性和掺杂行为表征。
● 材料导电类型判断(P型和N型)
● 精确测量载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数
● 变温Hall测试
● 杂质激活能测量
您的位置：
地址：香港九龍尖沙咀漆咸道45-51號
邮箱：chenliu_0902@firstnanosystem.com
传真：400-9999-185
咨询电话