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  • SE系列椭偏仪
    SE系列椭偏仪

    椭偏仪是一种利用偏振态的变化 后光束探测样品反应技术。不像反射仪,参数(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。改变入射角。可以得到更多的数据集,这将有助于精炼模型,减少不确定性和提高用户的数据信心。因此,可变角度比固定角度的系统具有更强大的功能 。目前有两种方法改变入射角,手动或自动模式。

    更新时间:2019-02-13型号:SE系列浏览量:5039
  • Toho FLX-2320-S薄膜应力测量系统
    Toho FLX-2320-S薄膜应力测量系统

    在硅片等基板上附膜时,由于基板和薄膜的物理定数有异,产生应力,进而引起基板变形。由涂抹均匀的薄膜引起的变形的表现为基板的翘曲,而薄膜应力测量装置FLX系列可从这个翘曲(曲率半径)的变化量测量其应力。

    更新时间:2023-06-06型号:Toho FLX-2320-S浏览量:8581
  • SR系列薄膜反射仪
    SR系列薄膜反射仪

    薄膜反射仪是一款相对较低成本和操作简单的工具。基于阵列的探测器系统保证快速测量,可升级到MSP(显微分光光度计)系统,SRM映射系统,多通道系统,大点的·直接测量图案或功能结构。

    更新时间:2023-02-17型号:SR系列浏览量:2280
  • N系列光学接触角测量仪
    N系列光学接触角测量仪

    光学接触角测量仪可根据客户的需求,针对不同的工作测试环境,提供相应的解决方案,如有技术请咨询德国韦氏纳米系统

    更新时间:2023-02-17型号:N系列浏览量:2615
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