薄膜反射仪实现高精度检测服务

　　薄膜反射仪可以实现产品的厚度检测，实现了高精度检测服务。我们使用超声波测厚仪可以帮助我们更好的实现高精度检测，同时降低对设备的破坏。我们可以利用这款设备实现的检测，通过该设备我们会还可以实现非接触检测，帮助设备实现的检测服务。
　　薄膜反射仪的薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250?m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
　　薄膜反射仪主要功能及应用范围：
　　1. 有机、无机光电材料的结构和性能研究
　　2. 多晶薄膜物相鉴定、取向分析、晶粒大小测定、薄层次序分析
　　3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
　　薄膜反射仪技术特征：
　　★微电脑控制、大液晶显示
　　★进口高精度传感器，保证了测试精度
　　★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持 各种非标定制
　　★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
　　★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
　　★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印， 方便快捷地获取测试结果
　　★打印大值、小值、平均值及每次测量结果，方便 用户分析数据
　　★仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印
　　★标准量块标定,方便用户快速标定设备
　　★测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小
　　★专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将 测试结果展示给用户
　　★配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和 数据传输
　　薄膜反射仪关键部件均选用进口器件，滨松无臭氧环保型氘灯，德国欧士朗钨灯，美国派来兹检测器。保证了仪器性能的高可靠性。薄膜反射仪具有开放式的样品室设计，反射样品架、固体样品架、于光学镀膜高反和低反检测、带通滤光片以及眼镜片镀膜曲线测试。