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薄膜反射仪的使用反馈结果得到了用户的好评

2019-02-19

  薄膜反射仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪,非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
  薄膜反射仪界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。
  薄膜反射仪主要功能及应用范围:
  1. 有机、无机光电材料的结构和性能研究
  2. 多晶薄膜物相鉴定、取向分析、晶粒大小测定、薄层次序分析
  3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
  薄膜反射仪功能特点:
  1.测量和数据分析同时进行,可测量单层膜,多层膜,无基底和非均匀膜
  2.包含了500多种材料的光学常数,新材料参数也可很容易地添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
  3.体积较小,方便摆放和操作
  4.可测量薄膜厚度,材料光学常数和表面粗糙度
  5.若需要单独使用时,请向我司销售代表说明;
  薄膜反射仪可快速地测量透明或半透明薄膜的厚度,其测量膜厚范围为15nm-50um,仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率,并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧,方便于在实验室中摆放和使用。薄膜反射仪是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器,近几年,每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同,测量范围可以从10nm到250um,它至高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度(其中一层为基底材料)。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。

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