薄膜反射仪的使用反馈结果得到了用户的好评

　　薄膜反射仪根据其测量方式的不同，可分为：接触式薄膜测厚仪，非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。
　　薄膜反射仪界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。
　　薄膜反射仪主要功能及应用范围：
　　1. 有机、无机光电材料的结构和性能研究
　　2. 多晶薄膜物相鉴定、取向分析、晶粒大小测定、薄层次序分析
　　3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
　　薄膜反射仪功能特点：
　　1.测量和数据分析同时进行，可测量单层膜，多层膜，无基底和非均匀膜
　　2.包含了500多种材料的光学常数，新材料参数也可很容易地添加，支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
　　3.体积较小，方便摆放和操作
　　4.可测量薄膜厚度，材料光学常数和表面粗糙度
　　5.若需要单独使用时，请向我司销售代表说明；
　　薄膜反射仪可快速地测量透明或半透明薄膜的厚度，其测量膜厚范围为15nm-50um，仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率，并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧，方便于在实验室中摆放和使用。薄膜反射仪是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它至高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。