霍尔效应测试仪利用范德堡测量技术对半导体材料的电阻率、载流子浓度、磁致电阻率、霍尔系数、电子迁移率等进行测量，用来表征和了解材料的物理性质。霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性*的工具。
霍尔效应测试仪系统由可换向电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表，霍耳探头、标准样品组成。CH-100霍尔效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍耳测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。还可单独做恒流源、微伏表使用。
霍尔效应测试仪是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。
霍尔效应测试仪选用高灵敏度的标准样品，其霍尔电压较高，采用4位半高精度微伏表测量。本系统将高精度恒流源，四位半微伏表及和霍尔测量复杂的切换电路组装成一体。大大简化了实验的连线与操作。测试系统还可单独做恒流电源，微伏表使用。是一种小型的便携式仪器，旨在快速、准确、可重复测量非磁性材料，如塑料、玻璃、复合材料、铝和钛。广泛应用于许多行业。可以测量的材料包括所有类型的塑料和复合材料。
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