霍尔效应测试仪的相关内容普及

　　基本原理：利用霍尔效应可以测量半导体材料的导电特性，从而获得载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数。

　　当电流垂直于外磁场通过导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场，从而在导体的两端产生电势差，这一现象就是霍尔效应。

　　霍尔效应测试仪为性能稳定、功能强大、性价比高的室温霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料的重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可。

　　霍尔效应测试仪特点：

　　1.计算机软件控制各个测试条件：如测量电流，温度上升速率，磁场大小，磁场方向等等。

　　2.也可以由计算机控制转为手动控制。

　　3.可同时测量霍尔电势、样品电压、样品电流、样品温度和磁场强度。

　　霍尔效应测试仪能判断材料的导电类型，测定电磁铁的磁感应强度及磁场分布，研究电磁铁励磁电流与霍尔电压的关系、样品工作电流与霍尔电压的关系，以及电磁铁的磁场分布。主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、常温测量系统、低温（80K~常温）测量系统、高温（常温~573K）测量系统及固定磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，测试速度快，测量精度高，可重复性好。