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霍尔效应测试仪的相关内容普及

2020-09-18

   霍尔效应测试仪介绍:

  基本原理:利用霍尔效应可以测量半导体材料的导电特性,从而获得载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数。
  当电流垂直于外磁场通过导体时,载流子发生偏转,垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场,从而在导体的两端产生电势差,这一现象就是霍尔效应。
  霍尔效应测试仪为性能稳定、功能强大、性价比高的室温霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料的重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可。
  霍尔效应测试仪特点:
  1.计算机软件控制各个测试条件:如测量电流,温度上升速率,磁场大小,磁场方向等等。
  2.也可以由计算机控制转为手动控制。
  3.可同时测量霍尔电势、样品电压、样品电流、样品温度和磁场强度。
  霍尔效应测试仪能判断材料的导电类型,测定电磁铁的磁感应强度及磁场分布,研究电磁铁励磁电流与霍尔电压的关系、样品工作电流与霍尔电压的关系,以及电磁铁的磁场分布。主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、常温测量系统、低温(80K~常温)测量系统、高温(常温~573K)测量系统及固定磁场强度输入系统组成,拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置,测试速度快,测量精度高,可重复性好。

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